产品展示

FEI Helios Nanolab 600i 双束扫描电镜

型号:FEI Helios NanoLab 600i
 
主要性能和指标:
场发射电子枪,电子束加速电压:350 V - 30 kV;Ga离子枪,离子束加速电压:500 V – 30 kV;分辨率:0.8 nm (@30kV, STEM),0.9 nm (@15kV, SE), 1.4 nm (@1kV, SE);配备Pt气体沉积源;配置PP3000T冷冻样品传递系统和冷冻样品台;安装Auto Slice&View软件可以实现自动化离子束切割成像。
 
主要功能和服务范围:
生物样品大尺度连续切片扫描电子显微成像和三维重构(SBFSEM技术);生物样品含水冷冻切片加工;生物样品表面超微结构观察;冷冻扫描电子显微成像等。





产品介绍

仪器说明:      
先进的DoubleBeam可用于纳米尺度超高分辨率成像、分析和制造。

创新的ElstarTM电子镜筒构成Helios NanoLab高分辨率成像的基础。可实现高热量稳定性的恒定功率透镜、可实现更高探测线性和速度的静电扫描以及可实现各种条件下的超清晰成像。改进的穿透透镜探测器(TLD)用于探测最高采集效率的SE(二次电子)和轴BSE(背散射电子),探测器套组包括可伸缩的的固态背散射探测器和多分段STEM探测器。


Figure 1. (a) Helios Nanolab 600i 外观结构,(b)Chamber内部结构,(c)探测器的示意图
Tomahawk FIB是 FEI最新研发的离子镜筒,可确保Helios NanoLab 600i执行快速、精确切可靠的的磨削、制图和离子成像。Tomahawk卓越的低电压性能可制造出高分辨率 STEM 和原子探针显微镜所用的最优质超薄样品。它不仅具备卓越的离子成像分辨率,而且具备集成的差分抽取和渡越时间纠正功能,交付更紧密的束和更准确的扫描剖面,以便实施极其精确的磨削。由于 FEI 特有的超广范围的束化学(气体注入)、16 位图案生成器和集成的 CAD、脚本和基于库的制图功能,使得构建最复杂的纳米级结构成为可能。健全、精确的 FIB 切片以及高度精密的压力驱动的样品台和卓越的SEM 性能开启新一代自动软件的大门,可在无人值守的情况下实现样品制备或三维特征分析。


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